Jenseits klassischer Auflösungsgrenzen: Dr. Wilhelm Eschen erhält den Dr.-Ing. Siegfried Werth Preis

Dr. Eschen wurde für seine herausragenden wissenschaftlichen Leistungen im Bereich der hochauflösenden Mikroskopie mit extrem ultraviolettem (EUV) Licht geehrt. In seiner Dissertation mit dem Titel „Material-Specific and High-Resolution Imaging Using Extreme Ultraviolet Ptychography“ hat er ein neues Kapitel in der Geschichte der Mikroskopie aufgeschlagen – eines, welches die klassischen Grenzen der Lichtmikroskopie hinter sich lässt.

Denn wo herkömmliche Mikroskope an physikalische Auflösungsgrenzen stoßen, beginnt Dr. Eschens Forschung: Mit extrem kurzwelligem EUV-Licht, hoch kohärenten Strahlen und ausgefeilten Rekonstruktionsalgorithmen, wie sie Carl Zeiss und Ernst Abbe in ihrer Zeit kaum hätten erahnen können. Mit einer Beleuchtungswellenlänge von nur 13,5 nm und einer rekonstruierten Auflösung von 16 nm gelang es ihm, ein weltweit einzigartiges Mikroskop zu entwickeln. Besonders bemerkenswert: Dieses System liefert nicht nur Bilder mit bisher unerreichter Auflösung, sondern auch Informationen über die lokale chemische Zusammensetzung von Materialien auf der Nanoskala.

Dass dieser technologische Durchbruch kein theoretisches Konzept bleibt, stellte Dr. Eschen eindrucksvoll unter Beweis. Er hat seine Methode erfolgreich auf reale Proben aus Mikroelektronik und Biologie angewendet und damit das enorme Potenzial der EUV-Ptychographie für Wissenschaft und Technik demonstriert.

In der Laudatio vom Doktorvater PD Dr. habil. Jan Rothhardt würdigte neben seinen wissenschaftlichen Erfolgen auch Dr. Eschens außergewöhnliche Persönlichkeit: seine Ausdauer und tiefgreifende wissenschaftliche Klarheit, einhergehend mit seiner Bescheidenheit. Mit inzwischen über 15 Publikationen, zahlreichen internationalen Vorträgen sowie Mitwirkungen an Patentanmeldungen setzt er Maßstäbe und wird zu Recht als Vorbild für den wissenschaftlichen Nachwuchs gesehen.

Wir gratulieren Dr. Wilhelm Eschen herzlich zu dieser verdienten Auszeichnung und wünschen ihm für seinen weiteren Weg in Wissenschaft oder Industrie weiterhin viel Erfolg!